在整个半导体生命周期中测试数据分析。

Quantix为半导体测试数据分析提供了完整的生命周期解决方案，从最初的器件表征到自动化的成品率和质量管理，再到RMA分析。Quantix解决方案为工程师和管理人员提供了“半导体智能”，可以更好地制定决策和改进流程。

这些产品全部基于通用的体系结构和使用模型
，这使您可以随着业务的增长轻松地扩展您的产量和质量管理活动
。

Examinator-Pro

Quantix Examinator-Pro™为产品和测试工程师提供了表征新IC和测试程序，快速提高OSAT的产量以及识别和诊断成品率偏差所需的一切
。Examinator-Pro可以将标准测试数据文件（如STDF，ATDF
，PCM和100多种其他格式）转换为综合报告
，并使您能够交互式地向下钻取数据以进行根本原因分析。

它提供了强大的生产力功能，可用于多变量的极端情况表征
，加速的寿命测试以及对存储在测试数据存储库中的庞大数据集的快速，灵活的查询。Examinator-Pro还充当Quantix Yield-Man™的客户端
，为基于文件和基于RDB的分析提供相同的用户界面.

典型的Examinator-Pro应用包括
：

• 先进的设备表征和可靠性分析
• 测试程序证明/极限调整
• 测试仪，负载板相关性研究
• 测试时间优化
• 分包商资格
• 产量问题的根本原因分析

PAT-Man

Quantix PAT-Man™是用于PAT（零件平均测试）和其他DPM降低技术的综合解决方案，可管理从初始晶圆批表征到最终测试成品率监控的整个异常值去除过程

。全球主要的IDM在生产中都使用PAT-Man，以帮助提高用于安全关键型应用（例如汽车，医疗和国防）的设备的质量。

借助PAT-Man的智能，自适应离群算法和详细的离群值分析
，注重成本的制造商不仅能够降低PAT的产量损失，而且通常可以通过使用离群数据更好地控制制造过程来提高产量。

• 支持DPAT，多元PAT，GDBN，NNR，簇
  ，标线步和其他异常检测技术
• 快速配方创建和产量估算
• 智能的自适应规则，可降低产量影响
• PAT产量监测和报告推动了产量改进计划
• 在晶圆分类或最终测试时轻松与制造过程集

Yield-Man

Quantix Yield-Man™是一种企业收益管理解决方案，可自动执行数据收集和分析过程，以创建灵活的计划报表生成和电子邮件警报的无人值守收益监测解决方案。Yield-Man有效地充当了一个沉默的哨兵，监视所有测试子图标中所有设备类型的yield，并实现了异常管理。

当特定零件或测试的总产量或结果超出预期范围时，Yield-Man将发送电子邮件警报，告知您存在问题。利用Examinator-Pro™的全部功能及其数据分析功能
，可以深入测试数据并进行详细的根本原因分析。

• 自动数据收集和插入
• 自动整合重新测试数据
• 箱和参数的可编程警报
• 可选的SYA（统计产量分析）和SPM（统计过程监控）警报
• 自动化的可定制报告
• 家谱报告etest / sort
• 具有向下钻取功能的实时半导体智能仪表板
• 使用Examinator-Pro进行深入的根本原因分析